Seica首次亮相PCIM Expo & Conference
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Seica 很荣幸参加在德国纽伦堡举办的PCIM Expo & Conference，这是Seica首次参加此次展会，该展会是电力电子、运动控制、可再生能源和能源管理领域的国际盛会。该展会汇聚了来自行业和学术界的专家，将推动整个价值链的创新。
欢迎于5月6日至8日莅临我们的4-235号展位，了解我们最新的功率半导体测试解决方案。
凭借在Pilot VX HR等平台进行探针卡测试所积累的多年专业经验，Seica现推出两种先进的功率半导体测试解决方案。
S20 IS³
S20 IS³系统是测试分立功率器件（包括碳化硅和氮化镓技术）的先进解决方案。该系统专为交流和直流测试而设计，可确保精确、可重复地鉴定电气参数，因此对研发、生产和质量控制至关重要。
静态测试测量导通电压（Vce、Vds）、漏电流（Ic、Id）和阈值电压（Vth）等关键参数，确保符合电气规范。动态测试分析开关特性，如导通/关断时间、上升/下降时间和能量损耗，这些对实际应用至关重要。全面的测试有助于及早发现故障，降低风险，确保电力系统达到最佳性能。
S20 RTH
S20 RTH 测试站专为精确热阻 (RTH) 鉴定而设计，具有先进的电源和冷却管理功能。热性能是电源设计中的一个关键因素，会影响系统效率和半导体可靠性。
晶体管与二极管不同，具有驱动部分，因此对功率处理和输入信号的相互作用更为敏感。热测试可评估开关模式电源中功率 MOSFET 所承受的压力。通过分析器件的物理特性，它可以预测结温，并确定所需的安全裕量或散热片，以确保稳定运行。这种方法对于评估系统寿命和保持在安全工作区 (SOA) 内运行至关重要。
5月6日至8日，欢迎莅临我们的4-235号展位，了解我们的创新技术如何助力您的测试流程。
亲身体验我们的前沿技术，与行业专家面对面交流，了解我们的解决方案如何提高功率半导体的可靠性和性能。不要错过探索Seica最新进展的机会，了解我们如何支持您的测试和验证需求。我们期待您的光临！